Сибирский федеральный университет

Перевод названия: PROBLEM OF ELECTRONIC COMPONENTS BASE TEST FOR SPACE APPLICATION

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2015

Ключевые слова: зависимость, relationship, space industry, classification, defects, reliability, rejection, космическая отрасль, классификация, дефекты, надежность, отбраковка

Аннотация: Представлена проблема разработки программ дополнительных отбраковочных испытаний изделий микроэлектроники. Problem of developing of additional culled test programs of microelectronics products is presented.

Журнал: Актуальные проблемы авиации и космонавтики

Выпуск журнала: Т. 1, № 11

Номера страниц: 365-367

Место издания: Красноярск

Издатель: Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева

• Попов А.Д. (Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева)
• Ступина А.А. (Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева)

• РИНЦ (eLIBRARY.RU)