Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций
Конференция: International Crimean Conference Microwave and Telecommunication Technology; Sevastopol, Crimea; Sevastopol, Crimea
Год издания: 2010
Идентификатор DOI: 10.1109/crmico.2010.5631197
Аннотация: Controlled microwave module for sensing of semiconductors is developed. The results of its application for measurement of minority-carrier lifetime in silicon are presented. © 2010.
Издание
Журнал: KpbiMuKo 2010 CriMiCo - 2010 20th International Crimean Conference Microwave and Telecommunication Technology, Conference Proceedings
Номера страниц: 967-968
Издатель: Без издательства
Персоны
- Vladimirov V.M. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
- Konnov V.G. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
- Markov V.V. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
- Martynovskiy V.N. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
- Repin N.S. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
- Shepov V.N. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
Вхождение в базы данных
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.