Сибирский федеральный университет

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2010

Аннотация: Экспериментально определены особенности формирования химически осажденных тонких поликристаллических пленок Co?P в области нанотолщин. С помощью атомного силового микроскопа определены структурные изменения поверхности пленок при разных толщинах. Установлено, что при толщинах меньших 10 нм пленки представляют собой совокупность слабо связанных зародышей кристаллитов со случайной ориентацией осей легкого намагничивания. Последующее наращивание толщины пленок приводит к образованию поликристаллического однородного слоя. Приведены оценки, позволяющие определить магнитное состояние кристаллитов при их слабом магнитном взаимодействии.

Журнал: Физика металлов и металловедение

Выпуск журнала: Т. 109, № 6

Номера страниц: 650-653

ISSN журнала: 00153230

Место издания: Екатеринбург

Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука"

• Чжан А.В. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, 660036 Красноярск, Академгородок)
• Патрин Г.С. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, 660036 Красноярск, Академгородок)
• Кипарисов С.Я. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, 660036 Красноярск, Академгородок)
• Середкин В.А. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, 660036 Красноярск, Академгородок)
• Пальчик М.Г. (Сибирский федеральный университет, 660041 Красноярск, пр. Свободный, 79)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
• Список ВАК