An automatic setup for measuring low-field temperature dependencies of magnetoresistances of film samples : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2007

Идентификатор DOI: 10.1134/S0020441207040227

Журнал: Instruments and Experimental Techniques

Выпуск журнала: Т. 50, № 4

Номера страниц: 547-549

ISSN журнала: 00204412

Место издания: Москва

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd. (Плеадес Паблишинг, Лтд)

Kim P.D. (Kirenskii Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
Khalyapin D.L. (Kirenskii Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
Bykova L.E. (Kirenskii Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.