Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6490 LV

Марка: 
JSM-6490 LV
Производитель: 
JEOL (Japan).
Год выпуска: 
2007
Технические характеристики: 
  • термоэмиссионный источник электронов;
  • ускоряющее напряжение 0,3 – 30 кВ;
  • увеличение от x 5 до x 300 000;
  • разрешение до 3,0 нм (при ускоряющем 30 кВ);
  • виды контраста (вторичные и отраженные электроны): топографический, композиционный, теневой;
  • столик для образцов эвцентрического типа с компьютерным управлением.

Направления использования:

  • исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения;
  • топографический и качественный фазовый анализ поверхности;
  • возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).
Фотография: 

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.