Лаборатория рентгеновских методов исследования и анализа ЦКП СФУ

Виды исследований:

  • качественный рентгеноспектральный элементный анализ;
  • количественный рентгеноспектральный элементный анализ по стандартным образцам;
  • бесстандартный полуколичественный рентгенофазовый вещественный анализ;
  • количественный комплексный рентгеноспектральный и рентгенофазовый вещественный анализ;
  • уточнение параметров кристаллической решетки;
  • определение симметрии, кристаллографических индексов и параметров решетки;
  • определение размеров микроблоков и микронапряжений;
  • определение и уточнение атомной кристаллической структуры новых материалов;
  • изучение процессов фазообразования и продуктов синтеза новых материалов;
  • разработка автоматизированных систем рентгеновского производственного контроля состава твердофазных технологических продуктов.

Научные приборы:

Рентгеновский дифрактометр XRD 7000
Производитель: Shimadzu (Japan).
Год выпуска: 2007.

Рентгеновский спектрометр Lab Center XRF1800
Производитель: Shimadzu (Japan).
Год выпуска: 2007.


ИК-Фурье спектрометр Nicolet 380 совместимый с термоанали-затором SDT Q600

Производитель: Thermo Electron Corporation (USA).
Год выпуска: 2007.


Прибор синхронного термического анализа ТГ-ДТА/ДСК STA 449 Jupiter

Производитель: NETZSCH (Germany).
Год выпуска: 2007.

Зав. отделением — д-р. физ-мат. наук, проф. Якимов Игорь Степанович
тел. +7 913 559-26-66


Научные разработки:

Гибридный генетический алгоритм для определения кристаллических структур химических соединений из данных порошковой дифракции

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.