Лаборатория рентгеновских методов исследования и анализа ЦКП СФУ

Виды исследований:

качественный рентгеноспектральный элементный анализ;
количественный рентгеноспектральный элементный анализ по стандартным образцам;
бесстандартный полуколичественный рентгенофазовый вещественный анализ;
количественный комплексный рентгеноспектральный и рентгенофазовый вещественный анализ;
уточнение параметров кристаллической решетки;
определение симметрии, кристаллографических индексов и параметров решетки;
определение размеров микроблоков и микронапряжений;
определение и уточнение атомной кристаллической структуры новых материалов;
изучение процессов фазообразования и продуктов синтеза новых материалов;
разработка автоматизированных систем рентгеновского производственного контроля состава твердофазных технологических продуктов.

Научные приборы:

Рентгеновский дифрактометр XRD 7000
Производитель: Shimadzu (Japan).
Год выпуска: 2007.

Рентгеновский спектрометр Lab Center XRF1800
Производитель: Shimadzu (Japan).
Год выпуска: 2007.

Зав. отделением — д-р. физ-мат. наук, проф. Якимов Игорь Степанович
тел. +7 913 559-26-66

Научные разработки: