Виды исследований:
- качественный рентгеноспектральный элементный анализ;
- количественный рентгеноспектральный элементный анализ по стандартным образцам;
- бесстандартный полуколичественный рентгенофазовый вещественный анализ;
- количественный комплексный рентгеноспектральный и рентгенофазовый вещественный анализ;
- уточнение параметров кристаллической решетки;
- определение симметрии, кристаллографических индексов и параметров решетки;
- определение размеров микроблоков и микронапряжений;
- определение и уточнение атомной кристаллической структуры новых материалов;
- изучение процессов фазообразования и продуктов синтеза новых материалов;
- разработка автоматизированных систем рентгеновского производственного контроля состава твердофазных технологических продуктов.
Научные приборы:
Рентгеновский дифрактометр XRD 7000
Производитель: Shimadzu (Japan).
Год выпуска: 2007.
Рентгеновский спектрометр Lab Center XRF1800
Производитель: Shimadzu (Japan).
Год выпуска: 2007.
ИК-Фурье спектрометр Nicolet 380 совместимый с термоанали-затором SDT Q600
Производитель: Thermo Electron Corporation (USA).
Год выпуска: 2007.
Прибор синхронного термического анализа ТГ-ДТА/ДСК STA 449 Jupiter
Производитель: NETZSCH (Germany).
Год выпуска: 2007.
Зав. отделением — д-р. физ-мат. наук, проф. Якимов Игорь Степанович
тел. +7 913 559-26-66
Научные разработки: