Лаборатория электронно-структурных исследований ЦКП СФУ

Виды исследований:

  • проведение структурных исследований металлических, полупроводниковых и керамических материалов методами просвечивающей электронной микроскопии;
  • проведение исследований поверхности металлических, полупроводниковых и керамических материалов методами растровой электронной микроскопии;
  • исследование элементного состава и пространственного распределения элементов по объему образцов методами рентгеноспектрального анализа.

Научные приборы:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100
Производитель: JEOL (Japan).
Год выпуска: 2007.

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6490 LV
Производитель: JEOL (Japan).
Год выпуска: 2007.

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7001F
Производитель: JEOL (Japan).
Год выпуска: 2007.

Зав. лабораторией кандидат физ.-мат. наук, доцент — Жарков Сергей Михайлович

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.