Марка:
JSM-7001F
Производитель:
JEOL (Japan).
Год выпуска:
2007
Технические характеристики:
- термополевой источник электронов;
- ускоряющее напряжение от 0.5 до 30 кВ;
- разрешение (изображение во вторичных электронах) до 1.2 нм (при ускоряющем 30 кВ);
- увеличение: от x 10 до x 1 000 000;
- виды контраста (вторичные и отраженные электроны): топографический, композиционный;
- элементный анализ: от B до U;
- столик для образцов эвцентрического типа с компьютерным управлением.
Направления использования:
- морфология поверхности различных материалов неорганического происхождения, получение изображения во вторичных и отраженных электронах;
- полуколичественный и количественный элементный анализ поверхности (до субмикронного уровня), картирование фаз;
- микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур.
Фотография: