Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7001F

Марка: 
JSM-7001F
Производитель: 
JEOL (Japan).
Год выпуска: 
2007
Технические характеристики: 
  • термополевой источник электронов;
  • ускоряющее напряжение от 0.5 до 30 кВ;
  • разрешение (изображение во вторичных электронах) до 1.2 нм (при ускоряющем 30 кВ);
  • увеличение: от x 10 до x 1 000 000;
  • виды контраста (вторичные и отраженные электроны): топографический, композиционный;
  • элементный анализ: от B до U;
  • столик для образцов эвцентрического типа с компьютерным управлением.

Направления использования:

  • морфология поверхности различных материалов неорганического происхождения, получение изображения во вторичных и отраженных электронах;
  • полуколичественный и количественный элементный анализ поверхности (до субмикронного уровня), картирование фаз;
  • микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур.
Фотография: 

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.